YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
标准名称：铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
发布日期：2010-11-10
实施日期：2011-03-01
标准编号：YS/T 739-2010
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
标准编号：YS/T 739-2010
规范名称：铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法
适用范围：
本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定方法。本标准适用于幅电解质中分子比及CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定。测定范围分子比：1.80～3.20、CaF2：1.00％～10.00％、MgF2：0.05％～5.00％、、Al2O3：1.00％～10.00％。
全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：中国铝业股份有限公司贵州分公司、中国铝业股份有限公司青海分公司等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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