SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
标准编号：SJ/T 11399-2009
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
标准编号：SJ/T 11399-2009
规范名称：半导体发光二极管芯片测试方法
适用范围：
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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