当前位置:图集之家标准行标

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

简介

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

标准编号:SJ/T 11405-2009

规范名称:光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

适用范围:

主要规定了光发射器件的辐射功率、正向电流、开关时间等电参数和光电参数的测量方法,以及光电探测器件的噪声、开关时间、响应度等电参数和光电参数的测量方法。

中国电子技术标准化研究所

起草单位:信息产业部电子工业研究

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

*特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请联系我们处理。

相关