YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量

标准名称：铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量发布日期：2007-04-13 实施日期：2007-10-01 标准编号：YS/T 644-2007 标准状态：现行(*非即时更新以实际为准) 标准格式：PDF电子版

+加入收藏下载源文件不能下载？报告错误

简介

YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量

标准编号：YS/T 644-2007

规范名称：铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量

适用范围：

本标准规定了铂钌（Pt-Ru）合金薄膜材料中合金态钌含量（质量分数）的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌质量分数的测定，也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围：合金态铂质量分数不小于3%，合金态钌质量分数不小于3%。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜。

全国有色金属标准化技术委员会

起草单位：昆明贵金属研究所

批准发布部门：国家发展和改革委员会行业分类无

*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。